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| 渦流測(cè)厚儀 ED400 |
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| 致用戶： 感謝您購買本公司的產(chǎn)品。 ED400測(cè)厚儀是ED300型測(cè)厚儀的改進(jìn)型 在操作上與ED300型測(cè)厚儀略有不同。 主要不同之處用粗斜體字標(biāo)出，請(qǐng)留意。 在啟用儀器之前，應(yīng)仔細(xì)閱讀本說明書。 如有任何疑問， 請(qǐng)致電本公司售后服務(wù)部。 本公司會(huì)提供必 要的幫助。 本公司提醒您：請(qǐng)注意保護(hù)好儀器探頭。 應(yīng)避免使探頭受到碰撞； 避免探頭線受到強(qiáng)力拉扯； 避免探頭進(jìn)水， 禁止向探頭內(nèi)注油。 否則可能造成探頭的永久性損壞。 |
目錄 1、用途與原理 2. 儀器特點(diǎn) 3. 技術(shù)參數(shù) 4、儀器成套性 5.按鍵說明 6.測(cè)量操作 7.校正操作 8.注意事項(xiàng) 9.影響測(cè)量精度的因素 10.更換探頭 11.故障排除 12. 日常維護(hù) |
ED400型渦流測(cè)厚儀是ED300型測(cè)厚儀的改進(jìn)型，儀器性能大幅度提高。
本儀器用千測(cè)量各種非磁性金屈基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測(cè)量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度，還可用千測(cè)械其它鋁材料、鋁零件表面的陽極氧化膜或涂層厚度，以及其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度，測(cè)橄塑料簿膜及紙張的厚度。
本儀器可用千在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)、銷售現(xiàn)場(chǎng)或施工現(xiàn)場(chǎng)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行快速、無損的膜厚檢查，可用千生產(chǎn)檢驗(yàn)、驗(yàn)收檢驗(yàn)和質(zhì)扯監(jiān)督檢驗(yàn)。
本儀器符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4957- 2003《非磁性金屈基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量渦流法》。
本儀器采用電渦流原理。當(dāng)探頭與試樣接觸時(shí)，探頭線圓產(chǎn)生的高頻電磁場(chǎng)會(huì)在基 體金屬表面感應(yīng)出渦 電流， 此渦電流產(chǎn)生的附加電磁場(chǎng)會(huì)改變探頭線圖參數(shù)，而探頭線圈參數(shù)改變顯的大小則決定千與涂層厚度相關(guān)的探頭 到基體之間的距離。儀器在校正之后通過對(duì)探頭線圈參數(shù)改變猛的測(cè)址，經(jīng)過計(jì)算機(jī)處理，就可得到狻蓋層的厚度值。
儀器特征
ED400型渦流測(cè)厚儀與ED300型相比，具有如下特點(diǎn)：
- 量程寬。ED400型的量程達(dá) 到0-500 µm。
- 精度高。ED400型的測(cè)量精度 達(dá)到2%。
- 分辨率高。ED400型的分辨率 達(dá)到0. 1 µm。
- 校正簡(jiǎn)便。只校正 " O" 和 " 50 µm " 兩點(diǎn) ， 即可在全量程范圍內(nèi)保證設(shè)計(jì)精度。
- 基體導(dǎo)電率影響小。當(dāng)基體材料從純 鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時(shí)，造成的測(cè)戳誤差不大于l ~ 2 µm 。
- 可靠性提高。采用 了高集成 度、高穩(wěn) 定性的電子器件， 電路結(jié)構(gòu)優(yōu) 化，儀器可靠性提高。
- 穩(wěn)定性提高。采用 先進(jìn) 的溫度補(bǔ)償技術(shù)，測(cè)量值 隨環(huán)境溫 度的變化很小。儀器校 正一次可 在生產(chǎn)現(xiàn) 場(chǎng)長(zhǎng)期使用。
- 探頭線壽命長(zhǎng)。采用 了德國(guó)進(jìn)口的，在德國(guó) 測(cè)厚 儀上使用的探頭線，探頭線壽命可大大延長(zhǎng)。
- 探頭芯壽命長(zhǎng)。采用高強(qiáng)度磁 芯材料， 微調(diào)了探頭設(shè)計(jì) ， 探頭芯壽命可大大延長(zhǎng)。
- 探頭可互換。采用 了外接式探頭，探頭損壞后，使用者可自行更換備用探頭，無需返廠維修。
- 包裝改進(jìn)。采用 了大型包裝箱 ， 更精致 ， 防震效 果更好。
測(cè)量范圍： 0~ 500 µm
測(cè)盎精度： 0~ 50 µm: 土1 µm ;50~ 500 µm : 土 2%
分 辨 率： 0- 50 µm: 0. 1 µm、50- 500 µm: 1µm;
0- 500 µm: 1µm (可選）
使用溫 度： 5- 45'C
電 源： 一節(jié)9 V層疊電池功耗： 8 0mw
外形尺寸： 150mmX 80mmX 30mm
重 顯： 260 g
儀器成套性
標(biāo)準(zhǔn)配置
主機(jī)一臺(tái)探頭 一支
校正基體一塊 ( 6063 鋁合金）
校正笚片一片（約50 µm, 附檢測(cè)報(bào)告） 使用說明書一份
合格證一份
保修單一份
手提式儀器箱 一個(gè)可選附件
備用探頭
基體
校正箱片（約50 µm , 附檢測(cè) 報(bào)告）
按鍵說明
電源— 電源開關(guān)鍵 。用千開啟或關(guān)閉電源。
統(tǒng)計(jì)—統(tǒng)計(jì)鍵。用千順序讀取一組測(cè)量數(shù)據(jù)的平均值、最大值、最小值、標(biāo)準(zhǔn)偏差和測(cè)量次數(shù)。
清除—刪除鍵。用千刪除當(dāng)前測(cè)量值或一個(gè)校正步驟。校正一校正鍵。用于校正儀器。
“ ”— 下調(diào)鍵。在校正狀態(tài)時(shí)，用千將顯示值調(diào)低。" .A." — 上調(diào)鍵。在校正狀態(tài)時(shí)， 用千將顯示值調(diào)高。組合鍵一兩個(gè) 按鍵配合使用可得到新功能。如表1.
表1
| 按鍵組合 | 功能說明 |
| 消除＋統(tǒng)計(jì) | 復(fù)位 ： 恢復(fù)出廠 設(shè)罰 |
| 統(tǒng)計(jì)+ " ..." | 激活蜂鳴音 |
| 統(tǒng)計(jì)＋ ” ＂ | 消除蜂鳴音 |
| 校正＋ ” ＂ | 顯示小數(shù)( 0- 5 0 µm ) |
| 校正＋ ” “ | 顯示整數(shù) ( 0- 5 00 µ m) |
測(cè)量操作
按電源開關(guān)鍵，接通電源，儀器開始執(zhí)行自檢程序， 顯示所有符號(hào)后發(fā)出一聲鳴音， 顯示 " O" 或 " O. O" 。儀器進(jìn)入測(cè)量狀態(tài)。此時(shí)可直接進(jìn)行測(cè)量操作。
操作步驟如下：
測(cè)量
手持探頭的塑料部分， 將探頭平穩(wěn)、垂直地落到清潔、干燥的試件上， 儀器鳴叫一聲， 顯示出膜厚值（測(cè)量時(shí)用力不要過大， 以免損傷探頭）。抬高探頭，重新落下，可完成下一次測(cè)量。探頭抬高的高度應(yīng)大于10mm,待續(xù)時(shí)間應(yīng)大千2秒鐘。一般每一測(cè)量點(diǎn)應(yīng)測(cè)暈5~ 10次， 然后讀取統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù) 。
統(tǒng)計(jì)
按動(dòng)統(tǒng)計(jì)鍵可依次循環(huán)顯示以下統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)：
MEAN —平均值MAX—最大值MIN—最小值
s — 標(biāo)準(zhǔn)偏差
N — 測(cè)量次數(shù)
再次測(cè)最時(shí)， 可直接進(jìn)入下一組測(cè)量數(shù)據(jù)。
刪除
在測(cè)量過程中，如果因?yàn)樘筋^放置不穩(wěn)或其它原因，出現(xiàn)了一個(gè)明顯錯(cuò)誤的測(cè)量值， 可按動(dòng)刪除鍵將其刪除，不計(jì)入統(tǒng)計(jì)。在校正狀態(tài)下，按動(dòng)一次刪除鍵可刪除最后一個(gè)測(cè)量值，按動(dòng)兩次刪除鍵可刪除此校正步驟所有測(cè)鼠值。
關(guān)機(jī)
測(cè)量完畢，按電源鍵關(guān)閉儀器電源。停止操作1分30秒后，儀器會(huì)自動(dòng)關(guān)閉電源。
電池
儀器有欠壓提示功能，當(dāng)電池電壓不足時(shí)，顯示"LOBAT" , 此時(shí)應(yīng)在10分鐘 之內(nèi) 結(jié)束測(cè)暈， 更換電池。電池電壓過低時(shí)，儀器會(huì)自動(dòng)關(guān)機(jī)。
校準(zhǔn)操作
本儀器不必每次使用前都做校正。對(duì)千長(zhǎng)期沒有使用過、長(zhǎng)期沒 有校正過、明顯失準(zhǔn)、執(zhí)行了“ 復(fù)位” 操作及更換了探頭的儀器， 應(yīng)進(jìn)行校正操作。
校正時(shí)應(yīng)使用隨機(jī)附帶的基體（或無涂層的產(chǎn)品試塊）和校正笥片。基體和校正箱片應(yīng)經(jīng)過仔細(xì)的清潔處理。在校正狀態(tài)下， 每次測(cè)量時(shí)探頭應(yīng)盡量落到同—區(qū)
域， 手法上要輕、要穩(wěn) ，出現(xiàn)明顯誤差時(shí)應(yīng)利用刪除鍵 將其刪除。
校正操作分為單點(diǎn)校正和兩點(diǎn)校正。
使用者可以根據(jù) 實(shí)際情況或自己的使用 經(jīng)驗(yàn)選擇執(zhí)行單點(diǎn)校正或兩點(diǎn)校正。儀器更換探頭后必須進(jìn)行一次兩點(diǎn)校正。校正操作應(yīng)在開機(jī)1分鐘后執(zhí)行。
單點(diǎn)校正
單點(diǎn)校正就是校正零點(diǎn)，只需要使用基體。
按校正鍵， 儀器進(jìn)入校 正狀態(tài)， 顯示器顯示 " ZERO"
和 " O. O" 。
- 2 在基體上測(cè)量10次以上 ， 顯示器顯示 " MEAN" 和各次測(cè)量的平均值。
- 7.1.3 連續(xù)按動(dòng)兩次校正鍵， 儀器存入新的零點(diǎn)值， 退出校正狀態(tài)， 顯示 "--- " 之后， 顯示 " O" 或 " O. O" , 進(jìn)入測(cè)量狀態(tài)。
- 兩點(diǎn)校正
- 兩點(diǎn)校正是校正零點(diǎn)和一個(gè)已知點(diǎn)。兩點(diǎn)校正應(yīng)使用基體和隨機(jī)附帶的 厚度約50 µm的校正箱片。
- 按校正鍵， 儀器進(jìn)入校正狀態(tài)，顯示器顯示 " ZE RO"
- 和 " 0. 0"。
- 在基體上測(cè)量10 次以上，顯示器顯示 " MEAN" 和各次測(cè)最的平均值。
- 按校正鍵，儀器存入新的零點(diǎn)值， 顯示 " STDl " 和
- " 0. 0"。
- 將厚度值約為5 0 µ m的校正箱片放 到基體上， 在圓圓內(nèi)測(cè)最10 次以上 ， 顯示器顯示 " MEAN" 和各次測(cè)量的平均值。
- 用上調(diào)鍵" ..&." 或下調(diào)鍵 " T " 將顯示值調(diào)到校正笚片的厚度值。（注：第 一次按動(dòng)上渭健 "-"" ,, 威下渭健 ＂，，”時(shí) ，顯示僮均為50. 0。此后，顯示值隨著上調(diào)健威 下調(diào)健增減。）
- 按校正鍵， 儀器存入新的校正值， 退出校正狀態(tài)， 顯示 "---" 后， 顯示 " O" 或 " O. O" , 進(jìn)入測(cè)量狀態(tài)。
為盡暈提高測(cè)噩精度，在儀器的使用中應(yīng)注意如下兩點(diǎn)：
- 1在每天使用儀器之前，以及使用中每隔一段時(shí)間（例如，每隔l小時(shí)），都應(yīng)在測(cè)量現(xiàn)場(chǎng)對(duì)儀器的校正進(jìn)行一次核對(duì)，以確定儀器的準(zhǔn)確性。一般只要在基體或無膜產(chǎn)品品試塊上檢查一下儀器零點(diǎn)即可，必要時(shí)再用校正箱片檢查一下校正點(diǎn)，當(dāng)誤差大千1µm時(shí)應(yīng)對(duì)儀器進(jìn)行校正。
影響測(cè)量精度因素
根據(jù)國(guó) 家標(biāo)準(zhǔn)GB/ T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)鼠渦流法》， 下列因素會(huì)影響測(cè)量精度。
覆蓋層厚度
測(cè)量的不確定度是渦流測(cè)厚方法固有的特性。對(duì)千較薄的覆蓋 層（例如：小千25µm)，測(cè)量不確定度是一恒定值，與覆蓋層的厚度無關(guān)，每次測(cè)量的不確定度至少是0.5 µ m。對(duì)千本儀器，這一不確定度為0.5µm~ lµm。對(duì)千厚度大千25µ m的較厚覆蓋層，測(cè)量的不確定度與覆蓋層厚度有關(guān)，是覆蓋層厚度的某一比值。對(duì)千本儀器，這一不確定度是覆蓋層厚度的2%。
對(duì)千厚度小千或等千5µm的覆蓋層，厚度值應(yīng)取幾次測(cè)量的平均值。
對(duì)千厚度小千3µm的覆蓋層，不能準(zhǔn)確測(cè)出膜厚值。
基體金屬的導(dǎo)電率
渦流測(cè)厚方法的測(cè)罣值會(huì)受到基體金屬導(dǎo)電率的影響。金屬的導(dǎo)電率與其 材料的成分及熱處理有關(guān)。導(dǎo)電率對(duì)測(cè)量的影響隨儀器的生產(chǎn)廠和型號(hào)的不同有明顯差異。本儀器的測(cè)量受基體金屬導(dǎo)電率的影響很小。
基體金屬的厚度
每臺(tái)儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度值，大千這個(gè)厚度，測(cè)暈值將不受基體金屈厚度增加的影響。這一臨界厚度值取決于儀器探頭系統(tǒng)的工作頻率及基體金屬的導(dǎo)電率。本儀器的臨界厚度值大約是0.3~ 0.4mm。
將基體金屬厚度低于臨界值的試樣與材質(zhì)相同、厚度相同的無涂層材料疊加使用是不可靠的。
邊緣效應(yīng)
渦流測(cè)厚儀對(duì)千試樣表面的不連續(xù)敏感。太靠近試樣邊緣的測(cè)量是不可靠的。如果一定要在小面積試樣或窄條試樣上測(cè)量，可將形狀相同的無涂層材料作為基體重新校正儀器。對(duì)千本儀器，當(dāng)測(cè)量面積小于150m曠或試樣寬度小千12mm時(shí)，應(yīng)在相應(yīng)的無涂層材料上重新校正儀器。
曲率
試樣曲率的變 化會(huì)影響測(cè)屈值。試樣曲率越小，對(duì)測(cè)量值的影響就越大。對(duì)千本儀器，當(dāng)測(cè)量直徑小千50mm的試樣時(shí)，應(yīng)在相同直徑的無涂層材料上重新校正儀器。
表面粗糙度
基體金屈和覆蓋層的表面粗糙度對(duì)測(cè)量值有影響。在不同的位置上進(jìn)行多次測(cè)量后取平均值可以減小這一影響。如果基體金屬表面粗糙，還應(yīng)在涂覆前的相應(yīng)金屬材料上的多個(gè)位置校正儀器零點(diǎn)。
探頭與試樣表面的緊密接觸
測(cè)厚儀的探頭必須與試樣表面緊密接觸 ， 試樣表面的灰塵和污物對(duì)測(cè)量值有影響。因此，測(cè)量時(shí)應(yīng)確保探頭前 端和試樣表面的清潔。
當(dāng)對(duì)2片以上已知精確厚度值的校正笚片進(jìn)行疊加測(cè)量時(shí)， 測(cè)得的數(shù) 值要大千校 正箱片 厚度值之 和。箱片越厚、越硬， 這一偏差就越大。原因是銷片的疊加影響了探頭與笚片及銷片之間的緊密接觸。
探頭壓力
測(cè)量時(shí)，施加千探頭的壓力對(duì)測(cè)量值有影響。本儀器在探頭內(nèi)有一恒壓彈簧，可保證每次測(cè)噩時(shí)探頭施加千試樣的壓力不變。
探頭的垂直度
儀器測(cè)量時(shí)，探頭應(yīng)小心垂直落下，探頭的任何傾斜或抖動(dòng)都會(huì)使測(cè)鼠出錯(cuò)。
探頭的溫度
溫度的變化會(huì)影響探頭參數(shù)。因此，應(yīng)在與使用環(huán)境大致相同的溫度下校正儀器。本儀器進(jìn)行了良好的溫度補(bǔ)償，溫度變化對(duì)測(cè)晝值的影響很小。
更換探頭
儀器探頭是外接式的，探頭通過一個(gè)連接器連接到儀器上。探頭損壞時(shí)需要卸下舊探頭，換上備用的新探頭。一個(gè)金黃色連接器，在靠近機(jī)殼的部分有一個(gè)六邊形
螺母，探頭的拆卸和安裝都是通過旋動(dòng)這個(gè)螺母完成的。探頭的更換方法如下：
卸下探頭。反時(shí)針旋轉(zhuǎn)六邊螺母，同時(shí)保持探頭的其它部分不旋轉(zhuǎn)，大約旋轉(zhuǎn)五閣，即可卸下探頭。
安裝探頭。將探頭的插頭壓在插座上，正時(shí)針旋轉(zhuǎn)六邊螺母，同時(shí)保持探頭的其它 部分不旋 轉(zhuǎn)， 大約旋轉(zhuǎn)五圈，旋緊。這樣就完成了探頭的安裝。
故障排除
故障現(xiàn)象、原因及解決方法儀器常見的故障現(xiàn)象、故障原因及解決方 法見表2.
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故障信息
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復(fù)位
由千校正錯(cuò)誤造成的測(cè)量數(shù)據(jù)混亂，可以通過執(zhí)行
“復(fù)位” 操作來消除 。
開機(jī)后同時(shí)按刪除鍵和統(tǒng)計(jì)鍵，儀器顯示"---" 后，顯示 "O" 。復(fù)位操作完成，回到出廠設(shè)置。
復(fù)位后，應(yīng)重新執(zhí)行兩點(diǎn)校正操作。
日常維護(hù)
1儀器使用完畢后，應(yīng)放入儀器箱中保存，避免受到?jīng)_擊和污損。
2儀器長(zhǎng)時(shí)間不使用時(shí)，應(yīng)取出電池，以免電池漏液，腐蝕儀器。
3探頭應(yīng)保持清潔，被測(cè)件上的污物和灰塵應(yīng)在測(cè)量前清除掉。在生產(chǎn)線上使用時(shí)，應(yīng)擦干試件后再測(cè)量，絕對(duì)不允許電解液或水流入探頭內(nèi)，也不允許向探頭內(nèi)注油，由此原因造成的探頭銹死或損壞，本公司將不負(fù)責(zé)免費(fèi)維修。
4儀器如發(fā)生故障，請(qǐng)立即與本公司聯(lián)系維修，上海京工將竭誠(chéng)為您服務(wù)。
